LAwave?薄膜和材料表面的無損檢測儀，利用脈沖激光誘導的聲表面波無損 檢測薄膜的彈性模量（楊氏模量），密度和厚 度。甚至可以表征多孔薄膜和表面存在微結構 的薄膜。 徃測薄膜的厚度可以低至幾個納米；徃測薄 膜可以是超硬薄膜，如DLC類金剛石薄膜，也可以是超軟薄膜，如聚合物薄膜。對于表面粗 糙度丌太好的熱噴涂涂層也可以通過低頻聲波 測量。 薄膜彈性模量的測定有著廣泛的應用需求， 是決定薄膜機械性能的重要指標，是薄膜內部 原子鍵合大小的重要標志。微結構和內部孔隙 會導致薄膜內部原子鍵合的缺失，相應的楊氏 模量也會發生變化，利用這一對應關系，可以 對薄膜中的孔隙和缺陷進行評估。
產品特點 ：
無損測量；
薄膜厚度：幾納米到幾百微米；
薄膜種類：聚合物到金剛石；
測量時間：小于一分鐘 ；
高重復性；
操作簡單，配置緊湊 ；
測試區域：最小 5×5 mm ；
對薄膜幾何形狀沒有要求；
對薄膜平整度要求低；
國際認證測量標準 EN 15042-1。
參考鏈接：http://www.yxp8888.cn/product/show-83.aspx